第三代高精度镀铝膜测厚仪获得多项技术突破

    镀铝膜测厚仪由于其测试原理、技术难度、精度量程范围、使用场合等特殊原因，国内实验仪器厂家开发此产品的并不多，传统的机械测试法精度zui的也只能到微米级。烟包、食品、医药、车灯等行业涉及的镀铝膜很薄，以埃为单位。控制镀铝膜的厚度就需要高精度的镀铝膜测厚仪，1 微米(μm) = 1 000 纳米(nm) = 10000埃，也就是说1纳米等于10埃，可见镀铝膜测厚仪的精度（食品行业镀铝层一般为200-500埃之间）。

    镀铝膜测厚仪*代为数码管显示，第二代为液晶显示，此次推出的HP-CHY-L镀铝膜测厚仪是技术的触摸屏显示，为第三代产品，屏幕触控操作，菜单显示。除此之外，与之前的相比有以下六点技术升级。

     一、HP-CHY-L镀铝膜测厚仪采用一种新材料探头，该探头对金属材料尤其是铝膜层非常敏感，测试精度由原来的10埃提高到1埃。

     二、测试区域内除探头外全部更换为非金属材料，涡流磁场区域没有其他金属，防止干扰。

     三、测试垫板选用特殊防静电材料，避免放置铝膜或移动铝膜产生的微小静电。

     四、机壳摒弃原来的45钢外加烤漆工艺，使用一次成型的型材，美观耐磨，轻便。

     五、校准仪器的标准物质原来使用光盘亮面，现在采用稳定性更高的标准铝箔作为标准物质。

     六、增加方块电阻显示，埃和方块电阻可自由切换显示，方便不同的标准计量。

     以上技术升级均是经过数次的筛选材料，软件测试，试验zui终确定的技术方案，保证了镀铝膜测厚仪的超高精度以及稳定性、重复性。

                             HP-CHY-L镀铝膜测厚仪

    该HP-CHY-L镀铝膜测厚仪适用于各种镀铝膜铝层厚度的检测，包括食品烟草软包装铝膜、涡流镀层、蒸发铝膜、微薄金属膜、硅片蒸铝层、 声表面波铝膜、 半导体铝膜、 车灯铝膜、塑料薄膜铝膜等，符合国家标准GB/T4957。铝膜测厚仪利用涡流原理制造，即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时，感应产生涡电流，因而产生涡流磁场，此涡流磁场反作用于原来激磁磁场，阻抗发生变化，然后通过检测电路并进行放大，输出与厚度相对应模拟电压。zui终显示厚度。

    该升级的HP-CHY-L镀铝膜测厚仪将会凭借其的技术广泛应用到超薄铝层的测试领域。